XRF光谱仪 测微量元素分析仪

下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率

RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和饰加工行业；银
行，饰销售和检测机构；电镀行业

美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）

元素分析仪采用了的“智能动态跟随”及“标准曲线非线性回归”等技术，微机控制及数据处理，可进行曲线修正，自动显示并打印检测结果，一共可贮存12条工作曲线，理论上可检测12种元素。完全可以满足普碳钢、高中低合金钢、不锈钢、生铸铁、球墨铸铁、合金铸铁、锰铁等材料中多元素的分析。
一、主要技术参数：
1、分析方法：光电比色分析法
2、测量范围：0-1.999A吸光度值，0-浓度值
 (以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn：0.010～18.00% P：0.0005～2.000% Si：0.010～6.000% ΣRE：0.010～0.500%
Mg：0.010～0.200% Cr：0.01～28.000% Ni：0.010～30.000% Mo：0.010～7.000%
Ti：0.010～5.000%
3、测量精度：符合GB/T223-88标准
4、可测元素：硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等
二、主要特点： 
1、采用“智能动态跟随”和“标准曲线的非线性回归”技术，结果数显直读。自动打印。
2、采用微机控制及数据处理，可储存12条曲线，并可进行曲线修正，具有断电数据保护等功能。
3、仪器设计合理，变更滤、比色皿、称样量，以及合理利用曲线，可以扩大测量元素的品种及含量范围。
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