测试范围Na-U
探测器分辨率140
测试精度0.05%
重量90kg
产地江苏昆山
完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析
应用新一代的高压电源和X光管,提供了产品的可靠性
利用新X光管提高仪器的测试效率,并优化产品性能和提高安全防护等级
不添加任何硬件设施既可升级分析功能,方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类
采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低
检测时间短,可以大大提高工作效率
国内新型的一款多元素分析仪,可检测普碳钢、高中低合金钢、不锈钢、生铸铁、球墨铸铁、合金铸铁、锰铁等多种材料中硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等多种元素。有四个控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。可以满足冶金、机械、铸造等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需求。
一、主要技术参数:
1、分析方法:光电比色分析法
2、量程范围:0-1.999A吸光度值,0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn:0.010~18.00% P:0.0005~2.000% Si:0.010~6.000% ΣRE:0.010~0.500%
Mg:0.010~0.200% Cr:0.01~28.000% Ni:0.010~30.000% Mo:0.010~7.000%
Ti:0.010~5.000%
3、测量精度:符合GB/T223标准
4、可测元素:硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。
二、主要特点:
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成,各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法,使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准,保证测量精度,内置多条曲线,可满足多种元素的分析需要。仪器的内存更大,可测元素更多。
3、仪器建立了的数据库,用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询,其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。
美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵(选配)、稳压电源(选配)
天瑞能量色散X荧光光谱仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保特点,采用25mm2大面积铍窗探测器,可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-7《饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-43《贵金属饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。
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